環(huán)境應力篩選溫度沖擊試驗機

型號：TSC-150L-3P

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更新時間：2024-09-13

價格：112000

簡要描述：

環(huán)境應力篩選溫度沖擊試驗機
可程序式冷熱沖擊循環(huán)環(huán)境氣候試驗箱直銷廠家冷熱沖擊試驗箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)*的測試設備，用于測試材料結構或復合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在*短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害

詳細介紹

品牌	HT/皓天	價格區(qū)間	5萬-10萬
產(chǎn)地類別	國產(chǎn)	應用領域	電子,航天,汽車,電氣,綜合

環(huán)境應力篩選溫度沖擊試驗機

操作流程

一般來說，高低溫沖擊試驗箱操作分為五部走：預處理、初始檢測、試驗、恢復、后檢測。下面皓天和大家一起分享一下詳細流程內(nèi)容：

1.預處理：將被測樣品放置在正常的試驗大氣條件下，直至達到溫度穩(wěn)定。

2.初始檢測：將被測樣品與標準要求對照，符合要求后直接放入高低溫沖擊試驗箱內(nèi)即可。

3.試驗：

1)試驗樣品應按標準要求放置在試驗箱內(nèi),并將試驗箱(室)內(nèi)溫度升到點，保持一定的時間至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定，以時間長都為準。

2)高溫階段結束后，在5min內(nèi)將試驗樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到-55℃的(室)內(nèi)，保持1h或者直至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定，以時間長都為準。

3)低溫階段結束后，在5min內(nèi)將試驗樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到70℃的(室)內(nèi)，保持1h或者直至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定，以時間長都為準。

4)重復上述實驗方法,以完成三個循環(huán)周期。根據(jù)樣件大小與空間大小，時間可能會略有誤差。

4. 恢復：試驗樣品從試驗箱內(nèi)取出后，應在正常的試驗大氣條件下進行恢復，直至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定。

5.后檢測：對照標準中的受損程度及其它方法進行檢測結果評定。

環(huán)境應力篩選溫度沖擊試驗機

三箱式冷熱沖擊試驗機節(jié)能優(yōu)勢

三箱式冷熱沖擊試驗箱采用自主研發(fā)的控制系統(tǒng)，精度高，穩(wěn)定操作簡單，控制器拋棄日本韓國等控制器的固定模式，采用新的模糊運算技術，自動分析負載能力，合理調(diào)節(jié)冷媒流量，使設備節(jié)能高達20%。

GB/T2423.1-2008試驗A低溫試驗方法

GB/T2423.2-2008試驗B高溫試驗方法

GB-T10592-2008高低溫箱技術條件

GJB150.3-1986軍用設備環(huán)境試驗方法:高溫試驗

GJB360A-96方法107溫度沖擊試驗的要求

別名：

高低溫沖擊試驗箱/溫度快速變化試驗機/冷熱沖擊試驗箱

高低溫沖擊箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)*的測試設備，用于測試材料結構或復合材料，

在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，得以在短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。分為兩廂式和三廂式，區(qū)別在于試驗方式和內(nèi)部結構不同，產(chǎn)品符合標準為:GB/T2423.1-2008試驗A 、GB/T2423.2-2008試驗B、GB-T10592-2008、GJB150.3-198、GJB360A-96方法107溫度沖擊試驗的要求。

箱體結構：

全部功能采用計算機控制，系自主開發(fā)的軟件，有良好的操作界面，使用戶的操作和監(jiān)測都更加簡單和直觀，保持功能可以使你正在運行的程序保持在目前的狀態(tài)下，可以臨時更改此程序段的數(shù)值，可以在屏幕上設置時間的參數(shù)，使制冷、加熱、提藍傳送切換，按設定值自動進行。

冷箱、熱箱獨立控制，箱門互相獨立，擴大試驗箱的使用范圍(一箱三用)。

產(chǎn)品保溫效果可以得到充分保證。

試驗箱門與循環(huán)風機，提籃傳動等互鎖，保護操作者的安全，一旦打開箱門，循環(huán)風機和提藍傳動的電源會被自動切斷。在箱頂有標準引線孔管，方便用戶向箱內(nèi)引入傳感器線，檢測電纜等類型引線。

冷熱沖擊試驗機用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反復抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學變化或物理傷害，可確認產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組件，無一不需要它的理想測試工具。