產(chǎn)品列表PRODUCTS LIST
型號(hào):TSD-36F-2P
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更新時(shí)間:2024-09-12
價(jià)格:11000
高低溫沖擊試驗(yàn)箱 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備公司廣泛用于新能源、電池產(chǎn)品、電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車 配件、金屬、化學(xué)材料、塑料等行業(yè),國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的質(zhì)量,從精密的IC到重機(jī)械的組件,可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。
品牌 | HT/皓天 | 價(jià)格區(qū)間 | 10萬(wàn)-20萬(wàn) |
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產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,航天,制藥,汽車,電氣 |
高低溫沖擊試驗(yàn)箱 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備公司
本機(jī)又名高低溫沖擊試驗(yàn)箱,快速溫變?cè)囼?yàn)箱。本系列冷熱沖擊試驗(yàn)箱主要用于測(cè)試材料對(duì)*溫或極低溫的抵抗力,這種情況類似于不連續(xù)地處于高溫或低溫中的情形,冷熱沖擊試驗(yàn)?zāi)苁垢鞣N物品在zui短的時(shí)間內(nèi)完成測(cè)試。熱震中產(chǎn)生的變化或物理傷害是熱脹冷縮改變或其他物理性值的改變而引起的,采用PID系統(tǒng),各類產(chǎn)品才能獲得*之信賴。熱震的效果包括成品裂開(kāi)或破層及位移等所引起的電化學(xué)變化,PID系統(tǒng)的全數(shù)字元自動(dòng)控制,使您操作簡(jiǎn)易。
1. 產(chǎn)品外形美觀、結(jié)構(gòu)合理、
2. 設(shè)備分為高溫室、低溫室、測(cè)試室三部分,采*之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)及蓄熱蓄冷效果,試驗(yàn)時(shí)待測(cè)物*靜止,應(yīng)用冷熱風(fēng)路切換方式將冷、熱溫度導(dǎo)入測(cè)試區(qū)實(shí)現(xiàn)冷熱沖擊測(cè)試目的。
3. 采用觸控式液晶(LCD)顯示人機(jī)介面控制器的計(jì)測(cè)裝置, 操作簡(jiǎn)單, 學(xué)習(xí)容易, 穩(wěn)定可靠,中,英文顯示完整的系統(tǒng)操作狀況、執(zhí)行及設(shè)定程序曲線。
4. 具96個(gè)試驗(yàn)規(guī)范獨(dú)立設(shè)定,沖擊時(shí)間999小時(shí)59分鐘, 循環(huán)周期1~999次可設(shè)定, 可實(shí)現(xiàn)制冷機(jī)自動(dòng)運(yùn)轉(zhuǎn),大程度上實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化,減輕操作人員工作量,可在任意時(shí)間自動(dòng)啟動(dòng)﹑停止工作運(yùn)行。
5. 箱體左側(cè)具有50mm之測(cè)試孔1個(gè),可供外加電源負(fù)載配線測(cè)試部件。
6. 可獨(dú)立設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能,并于執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí),可選擇二槽式或三槽式及冷沖、熱沖進(jìn)行沖擊之功能,具備高低溫試驗(yàn)機(jī)的功能。具備全自動(dòng),高精密系統(tǒng)回路、任一機(jī)件動(dòng)作,*有P.L.C鎖定處理,全部采用P.I.D自動(dòng)演算控制,溫度控制精度高。
采用自主研發(fā)的控制系統(tǒng),精度高,穩(wěn)定可靠。采用新的模糊運(yùn)算技術(shù),自動(dòng)分析負(fù)載能力,合理調(diào)節(jié)冷媒流量,使設(shè)備節(jié)能高達(dá)20%。
冷熱沖擊試驗(yàn)箱根據(jù)試驗(yàn)需求及測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)分為三箱式和兩箱式,區(qū)別在于試驗(yàn)方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同。
高低溫沖擊試驗(yàn)箱 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備公司
依據(jù)標(biāo)準(zhǔn):
GB5170、2、3、5、6 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫設(shè)備》
GB2423.1-2008(IEC68-2-1)《試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法》
GB2423.2-2008(IEC68-2-2)《試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法》
GB/T2423.22-2008 《試驗(yàn)N: 溫度變化試驗(yàn)方法》
GJB150.3A-2009(MIL-STD-810D)《高溫試驗(yàn)方法》
GJB150.4A-2009(MIL-STD-810D)《低溫試驗(yàn)方法》
GJB/150.5-2009 《溫度沖擊試驗(yàn)》
GJB360.7-87 《溫度沖擊試驗(yàn)》
GJB367.2-87 405《溫度沖擊試驗(yàn)》
SJ/T10187-91Y73《系列溫度變化試驗(yàn)箱-一箱式》
SJ/T10186-91Y73《系列溫度變化試驗(yàn)箱-二箱式》
GB/T 2424.13-2002《試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則
2.3?操作:
2.3.1?開(kāi)啟電源后,直接點(diǎn)擊觸摸屏控制器進(jìn)行試驗(yàn)方法設(shè)定。
2.3.2 首先點(diǎn)擊"程序設(shè)定",根據(jù)提示依次設(shè)定待測(cè)樣品所需要的實(shí)驗(yàn)條件(如:高溫沖擊溫度、高溫預(yù)熱溫度、低溫試驗(yàn)溫度、低溫預(yù)冷溫度等),設(shè)定輸入后控制器會(huì)自動(dòng)保存上面的操作。
2.3.3?在做與以前有相同條件實(shí)驗(yàn)的樣品測(cè)試時(shí),點(diǎn)擊"已建立"鍵,從其中調(diào)2.3.4? 所有條件設(shè)定后,回"運(yùn)轉(zhuǎn)"界面,點(diǎn)擊"啟動(dòng)"鍵,試驗(yàn)設(shè)置完畢。?
2.4?關(guān)機(jī):
2.4.1?測(cè)試結(jié)束后,關(guān)閉電源開(kāi)關(guān)。
2.4.2?結(jié)束后半小時(shí)取出實(shí)驗(yàn)樣品。
三簡(jiǎn)易事故的排除:
3.1?實(shí)驗(yàn)程序:設(shè)定后開(kāi)啟機(jī)器無(wú)效果:冷卻水沒(méi)打開(kāi)(處理:打開(kāi)冷卻水源)。
3.2?機(jī)器運(yùn)轉(zhuǎn)聲音異常:放置不平穩(wěn)(處理:重新擺放)。
3.3?出現(xiàn)其它異常,聯(lián)系廠商進(jìn)行維修。
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