50L高低溫沖擊試驗(yàn)箱_物理傷害檢測(cè)

 適用于電工電子產(chǎn)品，電子零部件的冷熱交替沖擊試驗(yàn)。產(chǎn)品可滿足CNS、MIL、IEC、JIS、GB/T2423.是利用低溫及高溫蓄冷熱槽，依動(dòng)作需要，將吊籃快速移動(dòng)到冷熱槽內(nèi),從而達(dá)到快速溫度沖擊效果,平衡調(diào)溫控制系統(tǒng)（BTC） 特殊設(shè)計(jì)之送風(fēng)循環(huán)系統(tǒng),以P.I.D.方式控制SSR,使系統(tǒng)之加熱量等于熱損耗量,故能長(zhǎng)期穩(wěn)定的使用.

低溫槽溫度范圍：A：(-55～-10℃). B：(-65～ -10℃). D：(-80～ -10℃).
　　　實(shí)驗(yàn)箱沖擊溫度：高溫 +60～150℃低溫 A：(-10～ -40℃) B：(-10～ -55℃) D：( -10～ -65℃)升溫時(shí)間 
　　　60~200℃小于35分降溫時(shí)間：A：+20～-55℃小于75分 B：+20～-65℃小于80分 D：+20～-75℃小于90分.
　　　沖擊恢復(fù)時(shí)間：高溫(150℃)沖擊30分鐘
　　　低溫(-40℃or-55℃or-65℃)沖擊30分鐘
　　　沖擊恢復(fù)時(shí)間：5分鐘以內(nèi)
　　　風(fēng)門開啟時(shí)間：3秒以內(nèi)試樣
　　　重量：1.0Kg 2.5Kg 5Kg 8Kg 10Kg 15Kg

50L高低溫沖擊試驗(yàn)箱_物理傷害檢測(cè)

參照標(biāo)準(zhǔn)

本試驗(yàn)箱符合GB/T2423.1 低溫試驗(yàn)方法、GB/T2423.2高溫試驗(yàn)方法。GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)法 、GJB360A-96電子及電氣元件試驗(yàn)方法。
GJB 150.3高溫試驗(yàn)；GJB 150.4 低溫試驗(yàn)；
GB10588-2006 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
GB10589-2006 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
GB/T10592高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
QC/T413-2002、GB2423.22、ISO16750-4、IEC60068-2-14標(biāo)準(zhǔn)中所要求的試驗(yàn)