品牌 | 其他品牌 | 價(jià)格區(qū)間 | 5萬(wàn)-10萬(wàn) |
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產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子 |
高低溫冷熱沖擊爐試驗(yàn)箱用途原理
冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車(chē)配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè),國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件,無(wú)一不需要它的理想測(cè)試工具。
高低溫冷熱沖擊爐廠家吊名詞解釋:
高低溫沖擊試驗(yàn)箱根據(jù)試驗(yàn)需求及測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)分為三箱式和兩箱式,區(qū)別在于試驗(yàn)方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同。三箱式分為蓄冷室,蓄熱室和試驗(yàn)室,產(chǎn)品在測(cè)試時(shí)是放置在試驗(yàn)室。兩箱式分為高溫室和低溫室,是通過(guò)電機(jī)帶動(dòng)"提籃"也有稱(chēng)“吊籃”運(yùn)動(dòng)來(lái)實(shí)現(xiàn)高低溫的切換,產(chǎn)品放在提籃里,是隨提籃一起移動(dòng)的。
品名:二箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱
型號(hào):TSC-36F-2P
標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容積:36L
內(nèi)形尺寸(寬W*高H*深D):W350*H350*D300mm
外形尺寸(寬W*高H*深D):W1600*H1800*D1350mm
溫度沖擊范圍:( 60~ 150)℃/(-40~-10)℃
控制器:韓國(guó)三元進(jìn)口控制器TEMI8226S
壓縮機(jī):比澤爾壓縮機(jī)
電源:AC380V 三相四線 保護(hù)地線
高低溫冷熱沖擊爐廠家試驗(yàn)箱保養(yǎng)方法
a.冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)冷凍機(jī)組之散熱器(冷凝器) 應(yīng)定期保養(yǎng), 保持清潔?;覊m粘糊冷凝器會(huì)使壓縮機(jī)高壓開(kāi)關(guān)跳脫而產(chǎn)生誤報(bào)警,冷凝器應(yīng)定期每月保養(yǎng),利用真空吸塵器將冷凝器散熱網(wǎng)片上附著之其塵吸除或開(kāi)機(jī)后使用質(zhì)硬的毛刷刷之或用高壓氣嘴吹干凈灰塵。
b.開(kāi)關(guān)門(mén)或從爐內(nèi)取測(cè)試物時(shí),不得讓物品與門(mén)上膠邊接觸,以防膠邊被破壞和縮短壽命.
c.機(jī)身周?chē)偷撞康牡孛嬉S時(shí)保持清潔,以免大量灰塵吸入機(jī)組內(nèi)產(chǎn)生意外事故和降低性能.
d.冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)冷凍系統(tǒng)是本機(jī)的核心,請(qǐng)半年巡檢一次所有銅管有無(wú)泄漏雪種情況,各嗽叭接頭、焊接口,如有油漬外泄,請(qǐng)通知本公司或直接處理之.
選購(gòu)指南:
了解了什么是冷熱沖擊試驗(yàn)箱,下面來(lái)說(shuō)一說(shuō)如何去選購(gòu)。
選購(gòu)冷熱沖擊試驗(yàn)箱要注意五個(gè)方面:沖擊溫度、試驗(yàn)負(fù)載、復(fù)歸時(shí)間、除霜時(shí)間、sensor放置位置。
購(gòu)選時(shí),它們有各自的要求,沖擊溫度是指測(cè)試區(qū)實(shí)際能夠跑到的溫度大范圍。注意不是預(yù)熱和預(yù)冷室的極限溫度;試驗(yàn)負(fù)載直接影響能夠放置多少測(cè)試品。一般說(shuō)來(lái),這個(gè)重量越大越好;它是指測(cè)試品全部從一個(gè)溫度點(diǎn)切換到另外一個(gè)溫度點(diǎn)所耗費(fèi)的時(shí)間。我們常見(jiàn)的規(guī)范約定≤5min。這個(gè)時(shí)間越小越好;除霜間隔時(shí)間越長(zhǎng)越好?,F(xiàn)在有寫(xiě)廠家能夠做到1000cycles除霜一次,是非常理想的。除霜間隔越短說(shuō)明該設(shè)備的氣密性越差;sensor必須放置在測(cè)試區(qū)內(nèi)部。有些廠家將sensor放置在風(fēng)道內(nèi)部,雖然與測(cè)試區(qū)只有10cm的距離,但是這個(gè)能量差異是相當(dāng)大的。且不能夠真實(shí)反映測(cè)試品表面的溫度變化。