交變濕熱試驗(yàn)箱 臺式高低溫恒溫恒濕箱恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)、恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)箱、可程式濕熱交變試驗(yàn)箱、恒溫機(jī)或恒溫恒濕箱，用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗(yàn)各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。適合電子、電器、手機(jī)、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學(xué)、建材、醫(yī)療、航天等制品檢測質(zhì)量之用。符合標(biāo)準(zhǔn):GB/T5170.5-2008、GB/T10586-2006、GB/T2423.1-2008試驗(yàn)A、GB/T2423.2-2008試驗(yàn)B、GB/T2423.3-2006試驗(yàn)Ca、GB/T2423.4-2008試驗(yàn)Db

交變濕熱試驗(yàn)箱 臺式高低溫恒溫恒濕箱

這個尺寸符合皓天標(biāo)準(zhǔn)型恒溫恒濕試驗(yàn)箱的尺寸，型號歸定為SMB-36AF，溫度范圍標(biāo)準(zhǔn)型的也有5個選擇。

桌上型恒溫恒濕機(jī)產(chǎn)品實(shí)物圖

符合標(biāo)準(zhǔn): GB/T5170.5-2008、GB/T10586-2006、GB/T2423.3-2006

箱體結(jié)構(gòu)特點(diǎn)( Constanttemperature and humidity test chamber )
箱體采用數(shù)控機(jī)床加工成型，造型美觀大方、新穎并采用無反作用把手，操作簡便。
箱體內(nèi)膽采用進(jìn)口不銹鋼（SUS304）鏡面板或304B氬弧焊制作而成，箱體外膽采用A3鋼板噴塑。
采用微電腦溫度濕度控制器，控溫控濕可靠。
大型觀測視窗附照明燈保持箱內(nèi)明亮，且采用雙層玻璃，隨時清晰的觀測箱內(nèi)狀況。
設(shè)有獨(dú)立限溫報警系統(tǒng)，超過限制溫度即自動中斷，保證實(shí)驗(yàn)安全運(yùn)行不發(fā)生意外。
可選配記錄儀，打印機(jī)能打印記錄設(shè)定參數(shù)和掃描出溫濕度變化曲線，4～20mA標(biāo)準(zhǔn)信號。
箱體左側(cè)配直徑50mm的測試孔。

臺式恒溫恒濕箱在做試驗(yàn)的過程中請盡量不要打開箱門，高溫時打開可能會對操作人員造成傷害，低溫時打開可能會對工作人員造成傷害，并且可能造成蒸發(fā)器結(jié)冰，影響制冷效果，容易造成設(shè)備損壞。若特殊情況必須要打開，請做好一定的防護(hù)工作。
 

規(guī)格與技術(shù)參數(shù)
型號 SMB-36AF

工作室尺寸(W*H*D)MM 300*400*300

外形尺寸(W*H*D)MM 500*1330*770

功率: 4.0(KW)
溫度范圍: -20℃～150℃
濕度范圍; 30～98％R.H
波動/均勻度: ±0.5℃/±2℃
濕度偏差: ＋2、-3％R.H
升溫速率: 1.0～3.0℃/min
降溫速率: 0.7～1.0℃/min
控制器: 進(jìn)口微電腦溫濕度集成控制器（TEMI300）
精度范圍: 設(shè)定精度：溫度±0.1℃、濕度±1％R.H，指示精度：溫度±0.1℃、濕度±1％R.H
傳感器: 鉑金電阻.PT100Ω/MV
加熱系統(tǒng):全獨(dú)立系統(tǒng)，鎳鉻合金電加熱式加熱器
加濕系統(tǒng):外置隔離式，全不銹鋼淺表面蒸發(fā)式加濕器
除濕系統(tǒng):采用蒸發(fā)器盤管露點(diǎn)溫度層流接觸除濕方式
供水系統(tǒng):加濕供水采用自動控制.且可回收余水.節(jié)水降耗
制冷系統(tǒng):法國原裝“泰康”全封閉風(fēng)冷式壓縮機(jī)制冷方式
循環(huán)系統(tǒng):耐溫低噪音空調(diào)型電機(jī).多葉式離心風(fēng)輪
外箱材質(zhì):碳素鋼板.磷化靜電噴塑處理/SUS304不銹鋼霧面線條發(fā)紋處理
內(nèi)箱材質(zhì): SUS304不銹鋼優(yōu)質(zhì)鏡面光板
保溫材質(zhì):聚氨酯硬質(zhì)發(fā)泡/超細(xì)玻璃纖維綿
門框隔熱:雙層耐高低溫老化硅橡膠門密封條
標(biāo)準(zhǔn)配置:附照明玻璃視窗1套、試品架2個、測試引線孔（50、100mm）1個
安全保護(hù):漏電、短路、超溫、缺水、電機(jī)過熱、壓縮機(jī)超壓、過載、過電流保護(hù)/控制器停電記憶
電源電壓:AC220V±10％50±0.5Hz

使用環(huán)境溫度: 5℃～＋30℃≤85％R.H
注：1、“SM”為恒溫恒濕試驗(yàn)箱型號。
2、以上數(shù)據(jù)均在環(huán)境溫度（RT）25℃工作室無負(fù)載條件下測得