高低溫低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù):

1.內(nèi)部容積: 100L(可定制)

 工作室尺寸（W*H*D）CM：400*500*400
2.溫度范圍: -70℃～150℃(可定制)
3.溫度波動(dòng)度: ±0.5℃（常壓）
4.溫度偏差: ±2.0℃（常壓）
5.升溫時(shí)間: 20℃～150℃≤60分鐘（常壓、空載）(可定制)
6.降溫時(shí)間: 常溫～-70℃ ≤45min（常壓、空載）(可定制)

7.壓力范圍: 常壓～0.5kPa(可定制)
8.壓力誤差: ±1kPa(可定制)
9.降壓時(shí)間: ≤20min (可定制)

該設(shè)備的控制儀表采用日本*“優(yōu)易控"品牌溫濕度儀表，7英寸高清真彩液晶觸摸顯示屏。東莞皓天實(shí)力的生產(chǎn)低氣壓試驗(yàn)箱廠家。濕度低氣壓測(cè)試箱新信息發(fā)布/*的箱體結(jié)構(gòu)：

高低溫低氣壓試驗(yàn)箱

滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn):

GB/T 10590-2006 高低溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T 2424.15-92電工子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程(溫度／低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則)

IEC 68-3-2 (1976) 基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程溫度／低氣壓綜合試驗(yàn)

GB/T 2423. 25-92《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AM 低溫／低氣壓綜合試驗(yàn)》；

GB/T 2423. 26-92《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/BM 高溫／低氣壓綜合試驗(yàn)》；

GB 2423. 27-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AMD 低溫／低氣壓／濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)方法》。

GJB150.2-86高低溫低氣壓試驗(yàn)方法

制冷系統(tǒng)：

高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱制冷機(jī)采用法國(guó)原裝“泰康"全封閉壓縮機(jī)。
冷凍系統(tǒng)采用單元或二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計(jì)。
美國(guó)“艾高"干燥過(guò)濾器，中國(guó)臺(tái)灣“冠亞"油分離器，意大利“卡士妥"電磁閥。
采用多翼式送風(fēng)機(jī)強(qiáng)力送風(fēng)循環(huán)，避免任何死角，可使測(cè)試區(qū)域內(nèi)溫濕度分布均勻。
風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計(jì)，風(fēng)壓風(fēng)速均符合測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，并可使開(kāi)門(mén)瞬間溫濕度回穩(wěn)時(shí)間快。
升溫、降溫、加濕系統(tǒng)*獨(dú)立可提高效率，降低測(cè)試成本，增長(zhǎng)壽命，減低故障率。

1.真空系統(tǒng)組成:真空系統(tǒng)是獲得真空度和測(cè)量控制真空度的組成部分，由真空測(cè)量系統(tǒng)和真空獲得機(jī)組組成

2.真空度測(cè)量:真空度測(cè)量采用壓力傳感器進(jìn)行測(cè)量該真空規(guī)采用壓力應(yīng)變實(shí)現(xiàn)真空度測(cè)量，測(cè)量數(shù)據(jù)為線(xiàn)形電信號(hào)，可直接輸入設(shè)備控制器進(jìn)行顯示和控制